轨道交通用IGBT测试仪-华科功率器件测试仪

半导体元件除了本身功能要良好之外，轨道交通用IGBT测试仪厂家，其各项参数能否达到电路上的要求，必须定期测量，否则产品的质量特性很难保证，尤其是较大的功率元件，轨道交通用IGBT测试仪，因具有耗损性，易老化及效率降低，因不平衡导致烧毁，甚至在使用中会发生。所以对新产品及使用中的元件参数的筛选及检查更为重要。 半导体元件的每一个参数，依其极性的不同，都须要一个的测量电路，我公司所设计生产的半导体元件自动测试系统，具有一组继电器形成的矩阵电路，依每个参数的定义，轨道交通用IGBT测试仪现货供应，形成千变万化的电路，轨道交通用IGBT测试仪加工，再依元件的出厂规格加上额定的电流或电压后，在极短的时间内将所须要的数据量测出来，且有些参数从量测的数据经快速运算即可得知其特性是否在规定范围内。IGBT动态参数测试系统技术要求1、设备概述该设备用于功率半导体模块（IGBT、FRD、肖特基二极管等）的动态参数测试，以表征器件的动态特性，通过测试夹具的连接，实现模块的动态参数测试。

参数名称符号参数名称符号

开通延迟时间td(on)关断延迟时间td(off)

上升时间tr下降时间tf

开通时间ton关断时间toff

开通损耗Eon关断损耗Eoff

栅极电荷Qg

短路电流ISC//

可测量的FRD动态参数

参数名称符号参数名称符号

反向恢复电流IRM反向恢复电荷Qrr

反向恢复时间trr反向恢复损耗Erec