华科分立器件测试仪-检修用IGBT测试仪

目的和用途该设备用于功率半导体模块（IGBT、FRD、肖特基二极管等）的动态参数测试，检修用IGBT测试仪，以表征器件的动态特性，通过测试夹具的连接，实现模块的动态参数测试。6双电流脉冲的设置：Vcc,Ic,电感值，间隙时间（10到50us）(脉宽自动计算)。1.2 测试对象IGBT、FRD、肖特基二极管等功率半导体模块2.测试参数及指标2.1开关时间测试单元技术条件开通时间测试参数：1、开通时间ton：5～2000ns±3%±3ns2、开通延迟时间td(on)：5～2000ns±3%±3ns3、上升时间tr：5～2000ns±3%±3ns4、开通能量： 0.2～1mJ±5%±0.01mJ1～50mJ±5%±0.1mJ 50～100mJ±5%±1mJ100～500mJ±5%±2mJ5、开通电流上升率di/dt测量范围：200-10000A/uS6、开通峰值功率Pon：10W～250kW

三、华科智源IGBT测试仪系统特征：A：测量多种IGBT、MOS管 B：脉冲电流1200A，电压5KV，测试范围广；C：脉冲宽度 50uS~300uSD：Vce测量精度2mVE：Vce测量范围>10VF：电脑图形显示界面G：智能保护被测量器件H：上位机携带数据库功能I：MOS IGBT内部二极管压降J : 一次测试IGBT全部静态参数K: 生成测试曲线（IV曲线直观看到IGBT特性，可以做失效分析以及故障定位）L:可以进行不同曲线的对比，检修用IGBT测试仪厂家，观测同一批次产品的曲线状态，或者不同厂家同一规格参数的曲线对比；安全技术要求：满足GB19517—2009国家电气设备安全技术规范。

6）短路保护放电回路紧急情况下快速放电，保证紧急情况时快速使设备处于安全电位。?回路耐压 DC10kV ?放电电流 10kA（5ms）?工作温度室温～40℃；?工作湿度